TS600T-PM-Y 米兰的足球赛事冷熱台廣泛應用於(yu) 半導體(ti) 、高分子聚合物、液態晶體(ti) 、冶金等各種研究領域。冷熱台可以跟光學顯微鏡、共聚焦顯微鏡、激光拉曼、傅裏葉紅外光譜儀(yi) 、X射線衍射儀(yi) 等設備聯用,用於(yu) 材料在變溫條件下的研究和表征。
簡要描述:$nTS-PM-Y 係列冷熱台使用非磁性材料設計TS係列冷熱台(-196~1500℃):包括各種型號的冷台、中溫熱台、高溫熱台、溫控探針台及定製方案;可使用電極探針,也可以使用定製管殼對樣品進行封裝
TS-PM-Y溫控探針冷熱台可獨立控溫,也可通過上位機軟件控製,溫度範圍廣,120℃/400℃/600℃/800℃/1000℃可選,可選擇透射光或反射光觀察 探針種類豐(feng) 富,可根據用戶需求進行定製 軟件拓展性強,可提供LABVIEW等語言的SDK。
TS600-EM-Y 橢偏儀(yi) 冷熱台配合偏光顯微鏡使用,樣品位置可XY軸移動,該型號體(ti) 積小巧輕薄,結構緊湊。 配套:A2101(吸附筆)、A2102(石英片)、A2510(無痕雙麵膠);
TS300N-SV-Y 聲速測量冷熱台可以用於(yu) 搭配聲速測量設備,進行聲速的變溫測量,實現變溫範圍-80到200℃,同時該型號可衍生用於(yu) 光譜儀(yi) 積分球等光學高低溫測試場合;
簡要描述: TS400-R-Y 溫控探針係列專(zhuan) 門針對材料電學測試而設計的一款產(chan) 品,溫度範圍為(wei) -196~400℃,全程溫度穩定性控製0.5℃以內(nei) ,采用四探針法可表征材料升溫和降溫階段電阻率隨溫度變化的特征。