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| 品牌 | 其他品牌 | 應用領域 | 化工,地礦,電子,航天,電氣 |
|---|---|---|---|
| 溫度範圍 | -196~400℃ | 溫度分辨率 | 0.1℃ |
| 控溫精度 | 0.5℃ | 升溫速率 | （1-30）K/min 程序控製 |
| 降溫速率 | （1-20）K/min 程序控製 |
冷熱台廣泛應用於(yu) 半導體(ti) 、高分子聚合物、液態晶體(ti) 、冶金等各種研究領域。冷熱台可以跟光學顯微鏡、共聚焦顯微鏡、激光拉曼、傅裏葉紅外光譜儀(yi) 、X射線衍射儀(yi) 等設備聯用，用於(yu) 材料在變溫條件下的研究和表征。
TS400-R-Y 溫控探針係列專(zhuan) 門針對材料電學測試而設計的一款產(chan) 品，溫度範圍為(wei) -196~400℃，全程溫度穩定性控製0.5℃以內(nei) ，采用四探針法可表征材料升溫和降溫階段電阻率隨溫度變化的特征。
TS400-R-Y 溫控探針係列特點
1、可表征材料在升溫和降溫時段電阻率隨溫度變化
2、四線法測量材料電阻率，可消除接觸電阻影響
3、測量薄膜和塊體(ti) 材料，適用於(yu) 多種應用場景 升降溫速率快，可大幅縮短測試時間 緊湊結構設計，占地空間小
參數規格
項目 | 技術參數 | |
溫控參數 | 溫度範圍 | -196~400℃ |
溫度分辨率 | 0.1℃ | |
控溫精度 | 0.5℃ | |
加熱方式 | 加熱棒加熱 | |
升溫速率 | （1-30）K/min 程序控製 | |
降溫速率 | （1-20）K/min 程序控製 | |
電學參數 | 測試物理量 | 變溫過程中電阻率連續采集 |
電阻率測試誤差 | ≤10% | |
重複測試誤差 | ≤3% | |
電阻測量範圍 | 1×10-6Ω~ 1×108Ω | |
其它參數 | 真空度 | ≤1Pa |
主機尺寸 | 140m*100mm*60mm | |
整機功率 | 250W | |
主機淨重 | 0.8Kg | |
溫控器尺寸 | 480mm（W）× 360mm（D）× 160mm（H） | |
測試圖譜
采用四探針法測量電阻率
產(chan) 品谘詢
