TS300N-SV-Y 聲速測量冷熱台

簡要描述：TS300N-SV-Y 聲速測量冷熱台可以用於(yu) 搭配聲速測量設備，進行聲速的變溫測量，實現變溫範圍-80到200℃，同時該型號可衍生用於(yu) 光譜儀(yi) 積分球等光學高低溫測試場合；

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詳細介紹

一、產(chan) 品簡介

TS300N-SV-Y 聲速測量冷熱台可以用於(yu) 搭配聲速測量設備，進行聲速的變溫測量，實現變溫範圍-80到200℃，同時該型號可衍生用於(yu) 光譜儀(yi) 積分球等光學高低溫測試場合；

二、功能特點

冷熱台廣泛應用於(yu) 半導體(ti) 、生命科學、食品研究、藥物研發、地質分析、高分子聚合物、航空航天、冶金、液態晶體(ti) 、生物學等各種研究領域。

冷熱台還可以跟光學顯微鏡（大多是偏光顯微鏡）、共聚焦顯微鏡、激光拉曼、傅裏葉紅外光譜儀(yi) 、X射線衍射儀(yi) 、橢偏儀(yi) 等設備聯合使用，用於(yu) 材料在變溫條件下的研究和表征。

三、TS300N-SV-Y 聲速測量冷熱台技術參數

3.1、製冷方式：液氮

3.2、溫度範圍（℃）：-50到300

3.3、顯示精度（℃）：0.1

3.4、控溫精度：±0.1

3.5、樣品區域：直徑小於(yu) 15mm

3.6、最大加熱速率：1-50℃/min

3.7、最大冷卻速率：13℃/min

3.8、最大功率：100W

3.9、外觀尺寸（mm）：79mm*54mm*26mm

3.10、腔體(ti) 淨重：0.4kg

3.11、真空度：無

圖1 TS300N-SV-Y 尺寸圖

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