便攜式澤貝殼係數測量儀

一、應用場景

熱電材料目前在半導體(ti) 製冷和溫差發電等領域得到廣泛應用，本產(chan) 品 CCM-3-Y 便攜式澤貝殼係數測量儀(yi) 可以用於(yu) 一般熱電材料的 SEEBECK 係數常溫測量，和半導體(ti) 製冷片的 ZT 值和電阻值測量，是熱電材料和器件研究生產(chan) 的重要工具。

樣品塞貝克係數

平均優(you) 值係數 Z（1/K）

電阻值測量

物理教學實驗

熱電材料初步篩選

二、功能和原理介紹

2.1 SEEBECK 係數測試功能（端口 A）

SEEBECK 係數雙端探筆，集成了冷探針和熱探針。其中熱探針包含銅探針、熱電偶和加熱圈；

測試過程中給 Seebeck 熱探針加熱，使熱探針和冷探針之間始終保持一個(ge) 固定的溫差 T，同時記錄冷熱探針之間的熱電勢 V，根據公式即可計算出材料的 Seebeck 係數值；

                     圖 2-1 SEEBECK 測試原理圖

    圖 2-2 塞貝克測試探筆尺寸圖

2.2 電阻測量功能（端口 B）

該功能通過四線法測量樣品電阻值，避免了探針和樣品接觸電阻的影響；

並且在測試時可以選擇不同的測量模式；

自動模式：測試軟件自動選擇測試電流，最終測試結果為(wei) 多組電流和電壓值數據擬合結果；

手動模式：采用設定電流值測試樣品電阻值；特別針對樣品的 IV 曲線測試功能；測試

過程中電流自動切換方向，以減少測試誤差。

同時該界麵具備恒流源輸出和微弱信號采集功能；具體(ti) 使用方法請參照 4.2 節。

2.3 半導體(ti) 製冷片參數測量（端口 B）

哈曼法測試原理：給樣品通一個(ge) 恒定的電流值，根據帕爾帖效應熱電材料會(hui) 在兩(liang) 端吸熱

和放熱，並產(chan) 生一個(ge) 溫差電壓 Vs。當溫差和熱傳(chuan) 導達到平衡時記錄此時的電壓 Vo，Vo 包含器件電阻的電壓 Vr 和 Vs。接著切斷電流，Vr 同時消失，而 Vs 逐漸減小。記錄此時刻前後電壓變化曲線，使用數據分析方法找到 Vr。Vs/Vr 則代表器件的 ZT 值。

                           圖 3-1 哈曼法測試原理

三、CCM-3-Y 便攜式澤貝殼係數測量儀(yi) 參數表